4Pi microscopy
Atomic Force microscopy (AFM)*
Correltive Light Electron Microscopy (CLEM)
Deconvolution widefield microscopy (DWM)
Electron Microscopy (EM)
Fluorescence correlation spectroscopy (FCS)
Fluorescence recovery after photobleaching (FRAP)
Fluorescence resonsnce energy transfer (FRET)
Fourier transform infrared imaging (FTIR)
Ground state depletion microscopy (GSD) / (GSDIM)
Laser scanning confocal microscopy (LSCM/CLSM)
Mass spectrometry-based imaging (MSI)-Bio*
Objective-coupled planar illumination (OCPI)
Optical projection tomography (OPT)
Sorter komórek ICHB-łącznik
Wysokoprzepustowy Miskroskop HCA CZT-Morasko (budynek B)
Cytometr z obrazowaniem ICHB-112
Mikroskop ultrarozdzielczy ICHB-łącznik
Photo activated localization microscopy (PALM)
Mikroskop ultrarozdzielczy ICHB-łącznik
Skontaktuj się z nami
Napisz do nas na: info@nebi.com lub użyj formularza kontaktowego
NEBI ul.Kwiatowa 12 60-679 Poznań, Poland
Znajdź nas w Internecie:
